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硬件系統測試功能化設計,可根據要求擴充測試功能和測試通道,軟件系統測試過程流程化設計,可以通過非編程方式實現測試過程流程化:保存流程測試的步驟和數據,形成標準
英國abi_BM8500電路板故障測試儀是一個多功能且易于使用的獨立測試系統. 它提供了電路板檢測功能, 電路板的檢測能力.無論在電路板的設計驗證, 生產測試
英國abi_BM8400電路板故障檢測儀是一臺具有豐富測試功能且易于使用的電路板故障檢測儀 。BM8400集成了從非加電測試到加電功能測試、仿真測試等多種測試
英國abi_BM8300電路板故障測試儀配備了測試電路板需的基本功能:數字集成電路、模擬集成電路的功能測試,非加電V-I曲線測試,數字電路板功能測試,電路通斷
英國abi_AT256集成電路測試儀可測試256管腳元器件;多類型,多品牌檢測多種類型的元器件,好壞對比測試方法:1)元器件之間對比;2)存儲對比測試;豐富可
英國abi_AT256 A4集成電路測試儀具備二維集成電路用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態阻抗端口測試通道:64路(可擴充至20
英國abi_AT256 A4 pro2集成電路測試儀:二維集成電路用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態阻抗端口測試通道:128路;三
英國abi_AT256 A4 pro4多品種集成電路篩選測試儀具備二維集成電路用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態阻抗端口測試通道:
英國abi_SWA512集成電路測試儀具備二維V-I動態阻抗端口測試通道:512路,二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道:512路,三維V-I-F動態阻抗端口測
SWA1024集成電路測試儀可用于集成電路、元器件研發測試;三維立體動態阻抗測試,二維V-I動態阻抗端口測試通道:1024路,二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通
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