
英國abi_AT256集成電路測試儀可測試256管腳元器件;多類型,多品牌檢測多種類型的元器件,好壞對比測試方法:1)元器件之間對比;2)存儲對比測試;豐富可試的測試條件,測試條件:電壓,電阻,頻率,測試波形可調并組合條件測試;判定對比標準可根據客戶需求設定;

英國abi_AT256 A4集成電路測試儀具備二維集成電路用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態阻抗端口測試通道:64路(可擴充至2048路);三維掃頻V-I-F動態阻抗端口測試通道:64路(可擴充至2048路)

英國abi_AT256 A4 pro2集成電路測試儀:二維集成電路用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態阻抗端口測試通道:128路;三維掃頻V-I-F動態阻抗端口測試通道:128路集成電路的來料質量控制檢測與篩選,一致性檢測;快速篩選假冒,仿制集成電路及元器件.

英國abi_AT256 A4 pro4多品種集成電路篩選測試儀具備二維集成電路用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;二維電路板用V-I動態阻抗端口測試通道:256路;三維掃頻V-I-F動態阻抗端口測試通道:256路;集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測;快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件;

英國abi_SWA512集成電路測試儀具備二維V-I動態阻抗端口測試通道:512路,二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道:512路,三維V-I-F動態阻抗端口測試通道:512路;集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測;可用于集成電路、元器件研發測試;三維立體動態阻抗測試.

SWA1024集成電路測試儀可用于集成電路、元器件研發測試;三維立體動態阻抗測試,二維V-I動態阻抗端口測試通道:1024路,二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道:1024路,三維V-I-F動態阻抗端口測試通道:1024路;集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測

SWA2048集成電路測試儀提供二維V-I動態阻抗端口測試通道:2048路,二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道:2048路,三維V-I-F動態阻抗端口測試通道:2048路;集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測;可用于集成電路、元器件研發測試;三維立體動態阻抗測試