針對您的測試要求提供的解決方案...

? ? ? ?對于現(xiàn)今電子業(yè)界的快速變化，求新、求變的市場需求特性，無論是從事設(shè)計，生產(chǎn)，試驗還是故障維修，都在向電子工程師提出各項的挑戰(zhàn)。電子電路變得更快，更小，更便宜和更復(fù)雜。對測試和維修的成本效益也變得相對性的提高很多。因此，您的測試設(shè)備能否滿足你的需求，而來應(yīng)對這一連串爆發(fā)性的技術(shù)變革？如果了解到這個問題，說明你已在尋求解決方式的路上了。

? ? ? ?盡管目前的電子技術(shù)日新月異，但其故障情形的基本性質(zhì)仍是相同的：故障的集成電路(ICs) 會無法正常動作，故障的二極管會呈現(xiàn)開路或短路的狀態(tài)，故障的電容器會呈現(xiàn)短路的故障現(xiàn)象。現(xiàn)今會造成電路板上故障的情況跟10年前的是相同的情形。但今天我們快速的找到這些故障點。 “高經(jīng)濟(jì)效益的維修工作” 的重心并不在于能不能修復(fù)電路板，而是在于需要花費多少的時間以及人力來修復(fù)一塊電路板。

? ? ? ?以經(jīng)濟(jì)學(xué)來說，維修費用也包括其測試設(shè)備。而BM8500電路板故障測試儀在其廣泛的應(yīng)用上具有相當(dāng)高的成本效益。它包括了一個儀表控制軟件，且易于工程師來操作使用。硬件是安裝在一個包含PC的標(biāo)準(zhǔn)19寸機架式機箱中，而BM8500是一個模塊化系統(tǒng)，因此可以為定應(yīng)用進(jìn)行客制化的配置。

一、BM8500電路板故障測試儀系統(tǒng)構(gòu)成

1.系統(tǒng)硬件測試平臺：（各個測試單元可根據(jù)測試需要擴充測試模塊以達(dá)到需要的測試通道）

1)多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴充：2048路測試通道；

2)模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）；

3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；

4)三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴充：2048路測試通道；

5)可編程程控電源單元：可根據(jù)測試需要擴充電源通道

6)硬件測試框架；

2.可編輯軟件測試平臺：

1)非代碼編程：測試流程管理，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測試程序；

2)代碼編程：自動化、半自動化電路板整板測試，實現(xiàn)電路板批量化測試、電路板生產(chǎn)檢驗測試、電路板一致性分析測試。

3.測試夾具：

1)測試夾具：日常手工測試需要的夾具；

2)治具：電路板整板測試的測試工裝（定制：包括：針床、接口板等）

（一）BM8500電路板故障測試儀系統(tǒng)硬件測試平臺功能：

1.多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴充：2048路測試通道；單元由ABI-6500模塊*1組成

1)64*1通道（可擴充至2048通道）

2)數(shù)字器件功能測試，管腳電壓，管腳連接狀態(tài)，溫度拐點系數(shù)，數(shù)字V-I測試

3)邏輯時序發(fā)生器

4)電路板故障查找功能

5)短路追蹤（通斷測量）

6）未知型號器件的判別

2.模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測試，矩陣測試；

2)24路測試通道，2通道探筆測試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測試通道；

3)多種器件的V-I, V-T, I-T曲線測試；

4)模擬集成電路及分立器件測試功能。

3.三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴充：2048路測試通道；單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規(guī)格：64路測試通道+4路探棒測試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測試模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測試；

3)矩陣測試:對管腳間的V-I（阻抗）曲線測試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值；

5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴充到2048路測試通道。

4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）單元由ABI-6350模塊*1組成

規(guī)格：集成8種常用測試儀器于一體；

1)3通道數(shù)字示波器；

2)2通道任意波形發(fā)生器；

3)2通道數(shù)字電壓表；

4)1通道數(shù)字電流表；

5)1通道數(shù)字電阻表；

6)1通道頻率計；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定輸出電源。

5.可編程程控電源單元；單元由ABI-1200模塊*1組成

規(guī)格：三路可調(diào)輸出，可串并聯(lián)；

通道隔離；

每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

具備過壓、過流保護(hù)

遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補償功能

6.硬件測試框架?

英國原產(chǎn)19英寸機架式含計算機（可以安裝六組模塊）

（二）可編程軟件測試平臺功能?

中英文軟件，可通過編程軟件對模塊進(jìn)行操作控制?

1.具有測試流程記憶功能（軟件具有強大的測試流程編輯和記錄功能）

2.測試流程的制定貫穿測試過程，使電路測試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、 測試流程）。可以按照測試要求，保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。

3.記錄多種測試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測試結(jié)果等信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試流程中，方便隨時與其他電路板進(jìn)行對比，大大簡化了測試中需要重復(fù)對比的工作。

4.軟件在測試流程中允許用戶加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等，大大提升了測試效率。

5.圖形化測試庫編輯器，圖形化定義輸入激勵信號及測試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立元器件與電路板測試庫，元器件與整板測試庫擴充簡單、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴充測試庫。

6.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報告。測試報告可以包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。生成用戶測試報告，方便測試數(shù)據(jù)的保存。

7.*中文、英文測試操作軟件，中文軟件漢化到多級菜單（漢化版），提供免費軟件的升級服務(wù)；

8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對測試的每個步驟進(jìn)行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個編程命令。

（三）測試夾具功能

1.測試夾具附件，包括：DIL等多種器件測試夾具1套（日常手工測試需要的夾具）；

2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測試的測試工裝（包括：針床、接口板等）；

3.可選配件：SOIC測試夾具、離線測試盒、分立器件測試探筆套裝等。

二、BM8500電路板故障測試儀系統(tǒng)功能特點

1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計，可根據(jù)要求擴充測試模塊和測試通道。

2.*軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計，可以通過非編程方式實現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。以后的測試就

3.按照流程步驟進(jìn)行測試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對比報告。測試流程的制定貫穿測試過程，并不斷完善測試流程。實時將測試經(jīng)驗、測試信息擴充到測試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計的電路板可以實現(xiàn)人工快速、半自動化故障排查及板級系統(tǒng)測試，提高排故和測試效率。

4.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報告。測試報告包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。生成用戶測試報告，方便測試數(shù)據(jù)的保存。

5.*多電源數(shù)字電路測試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試（可擴充到2048通道），每個通道可以根據(jù)需要分別獨立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅(qū)動或V/I曲線測量；可進(jìn)行自定義測試，器件與整板的自定義仿真測試。

6.*具備閾值電平臨界點掃描測試功能，定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7.系統(tǒng)可對多種器件進(jìn)行端口測試： V-I、V-T、V-I-F測試.二維V-I測試低達(dá)1Hz頻率，三維測試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試。

8.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板，三維立體圖形測量測量方式，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測試。

9.*系統(tǒng)各個模塊在同一個專業(yè)平臺操控下同時運行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測試并生成自定義測試報告。

10.*集成8種測試儀器于一體：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、1通道頻率計、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規(guī)測試儀器可以并發(fā)操作，步驟過程可以記錄存儲并可對比，測試數(shù)據(jù)可以量化，并可以形成測試報告，可對電路板進(jìn)行仿真測試、調(diào)試測試、一致性測試等整板測試。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，三個通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計，自動開啟和關(guān)閉測試需的電源。電源配合其他模塊使用，可實現(xiàn)整板測試與多電源測試的流程自動化。

12.多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴充與自定義器件測試庫。可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。

13.系統(tǒng)含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試等。

14.系統(tǒng)可對多種器件進(jìn)行端口測試：V-I、V-T、I-T測試。測試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.